Подробная информация о продукте:
|
Тип:: | Плоский сапфир | полированный: | Одиночная сторона отполированная (SSP)/двойная отполированная сторона (DSP) |
---|---|---|---|
Размер: | 50.8±0.2 мм (2 дюйма)/100±0.2 мм ((4 дюйма)/150 +0.2 мм (6 дюймов) | ориентация: | C плоскость (0001) под углом отклонения к оси M 0,2 + 0,1° |
Толщина: | 430+25 мм (2 дюйма)/660+25 мм ((4 дюйма)/1300 +25 мм (6 дюйма) | Тип: | ГаН на сапфировой эпитаксиальной пластинке |
Выделить: | Производство чипов и эпи вафелей,Производство чипов GaN эпитаксиальные пластинки,Эпивафры GaN для производства чипов |
Описание:
Эпиаксиальные пластинки относятся к продуктам, образованным путем выращивания нового однокристаллического слоя на одном кристаллическом субстрате.Эпиаксиальные пластины определяют около 70% производительности устройств и являются важным сырьем для полупроводниковых чиповПроизводители эпиаксиальных пластин используют оборудование CVD (химическое осаждение паров), оборудование MBE (молекулярный луч эпитаксии), оборудование HVPE и т.д.для выращивания кристаллов и производства эпитаксиальных пластин на материалах субстратаЗатем эпитаксиальные пластины изготавливаются в пластины с помощью таких процессов, как фотолитография, отложение тонкой пленки и гравирование.которые проходят процесс упаковки, такой как фиксация субстрата, установка защитных оболочек, проволочное соединение между пинами микросхемы и внешними подложками, а также испытания цепей, испытания производительности,и другие шаги тестирования, чтобы в конечном итоге произвести чипВышеуказанный процесс производства микросхем должен поддерживать взаимодействие с процессом проектирования микросхем, чтобы гарантировать, что конечный микросхем соответствует требованиям проектирования микросхем.
Основываясь на производительности нитрида галлия, эпитаксиальные пластины из нитрида галлия в основном подходят для применения при высокой мощности, высокой частоте, среднем и низком напряжении, что особенно отражается на:1) Большая ширина полосы: высокая ширина пробела улучшает уровень сопротивления напряжению устройств с нитридом галлия, которые могут выпускать большую мощность, чем устройства с арсенидом галлия,специально подходящий для базовых станций связи 5G2) Высокая эффективность преобразования:Сопротивление проводимости галлиевого нитрида переключателя электроники устройств питания на три порядка меньше, чем у кремниевых устройств3) высокая теплопроводность: высокая теплопроводность нитрида галлия дает ему отличные характеристики рассеивания тепла,изделие, подходящее для производства устройств высокой мощности,, высокой температуры и других полей; 4) Прочность электрического поля распада: хотя прочность электрического поля распада нитрида галлия аналогична прочности нитрида кремния,толерантность напряжения галлиевого нитрида устройств обычно составляет около 1000V из-за таких факторов, как технологии полупроводников и несоответствия материала решетки, а безопасное рабочее напряжение обычно ниже 650 В
спецификации:
2 - 6дюйм Недопированные GaN/Сапфиры Вафли | |||
Субстрат |
Тип | Плоский сапфир |
|
Польский | Односторонний полир (SSP) / двойной полир (DSP) | ||
Размер | 50.8 ±0,2 мм (2 дюйма) /100 ±0,2 мм (4 дюйма) /150 ±0,2 мм (6 дюймов) | ||
Ориентация | C плоскость (0001) под углом отклонения к оси M 0,2 ± 0,1° | ||
Толщина | 430 ± 25 мкм (2 дюйма) /660 ± 25 мкм (4 дюйма) /1300 ± 25 мкм (6 дюймов) | ||
Эпиклаер |
Структура | 4.5 μm uGaN/~ 25 nm uGaN буфер/ сапфир | |
Тип провода | Тип N | ||
Толщина/половая длина | 40,5 ± 0,5 мкм/ < 3% | ||
Грубость (Ra) | < 0,5 нм | ||
XRD FWHM | (0002) < 300 арксекунд, ((10-12) < 400 арксекунд | ||
Сопротивляемость (300K) | < 0,5 Ω·cm | ||
Мобильность | > 300 cm2/V·s | ||
Концентрация носителя | ≤ 1×1017 см-3 | ||
Пользовательная площадь | > 90% (исключение дефектов краев и макродефектов) | ||
Пакет |
Упакованные в чистой комнате в одной пластиновой упаковке |
Контактное лицо: Xiwen Bai (Ciel)
Телефон: +8613372109561